Discrete Software Reliability Growth Modeling for Errors of Different Severity Incorporating Change-point Concept
Goswami, Sunil Sunil, Khatri, Reecha, Kapur · 国际自动化与计算杂志 · 2007
几个软件可靠性生长模型(SRGM ) 被开发了在软件开发的严峻的阶段期间监视可靠性生长。在大多数在文学可得到的存在研究，一个类似的测试努力在每个调试努力上被要求，这被考虑。在实践，然而，差错的不同类型可以为他们的察觉和移动要求严峻的努力的不同数量。因而，差错根据严厉被分类进三个范畴：简单、难、复杂。这个分类可以根据严厉被扩大到差错的 r 类型。尽管在文学的一些存在研究合并了差错移动率(FRR ) 为差错的不同类型是不同的这个概念，他们假设 FRR 在全面测试时期期间仍然保持不变。相反，作为严峻的进步， FRR 由于改变严峻的策略，技巧，环境和人员资源变化，这被观察了。在这篇论文，一般分离 SRGM 用变化点概念在软件系统为不同严厉的错误被建议。然后，模型为二特别环境被提出。模型在二个真实数据集合上被验证。结果至于失败数据集的不同类型显示出建议模型的更好合适、更宽的适用性。关键词分离软件可靠性生长模型 - 非同类的泊松过程 - 差错严厉 - 变化点 - 概率产生函数 D. N。Goswami 收到了 M.Sc。并且在在 1989 和 2004 的计算机应用程序的博士学位分别地。他当前在计算机科学和应用程序作为研究的学校的读者和头正在工作， Jiwaji 大学， Gwalior。他进教 15 年，并且在国家、国际的杂志出版很多份报纸。他的研究兴趣包括软件可靠性和网络安全。Sunil K。Khatri 从王妃 Durgavati 大学在计算机应用程序收到了主人学位，在 1999 的 Jabalpur，并且是在 Jiwaji 大学的软件可靠性的一个博士候选人， Gwalior。他的博士研究区域是分离软件可靠性生长建模。他是在计算机科学系的一个高级讲师，管理的母亲特里萨研究所， GGSIP 大学。他进教 8 年。他的研究兴趣包括软件工程，数据采矿，和计算机网络安全�