Design principles for fault-tolerant random access memory for space applications
S. V. Volobuev, A.P. Evdokimov, Vladimir Ryabtsev · Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development · 2020
Предлагается архитектура отказоустойчивого оперативного запоминающего устройства, содержащего три канала модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и саморемонта.Первый модуль обрабатывает данные устройства управления, второй модуль работает в режиме зеркального отображения данных, третий модуль работает в режиме самотестирования.Если отказал первый модуль памяти, то происходит подключение второго работоспособного модуля памяти.Третий модуль переключается в режим зеркального отображения данных, а первый модуль переходит в режим самотестирования и автоматического саморемонта.Такое взаимодействие модулей памяти каналов многократно повышает надежность систем управления космической техникой.