Design for Testability in the Boundary-Scan Technology and the Latest Situation
Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi · Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging · 2018
Society 5.0 や第 4 次産業革命に進んでいく社会において は，あらゆるモノがインターネットにつながる IoT (Internet of Things) 環境の安全性の確保が喫緊の課題である。安心・ 安全な IoT 環境を構築するためには，安心・安全を考慮し たシステム設計が必要である。具体的には，電子回路に対 するテスト容易化設計法および診断容易化設計法やイン ターネットからの攻撃や偽造 IC の混入への対策としてのセ キュリティ指向設計法の確立が必要である。 本稿では小型・高密度化された電子回路を安全かつ安心 して利用するために導入されているバウンダリスキャン技 術に着目し，その有効性をテスト容易化設計 (DFT: Design For Testability) の観点から議論する。さらに最新の機能や利 用状況を解説する。 2. バウンダリスキャン誕生の背景とその目的 バウンダリスキャンは高密度実装されたプリント回路板 における LSI (Large Scale Integration) 間の相互接続を容易に テストすることが本来の目的であった。しかし最近はテス トだけでなく，FPGA (Field Programmable Gate Array) やフ ラッシュメモリへのオンボード書込み，組み込みシステム