Current Testing of Open Faults in TTL Combinational Circuits on Printed Circuit Boards.
Toshimasa Kuchii, Masaki Hashizume, T. Tamesada · Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging · 1998
本論文では, プリント配線板上にSSIを用いて実現したTTL回路における断線故障を, その回路に流れる静的電源電流を測定することで検出する方法を提案している。また, そのための検査入力生成手法を提案し, ISCAS-85ベンチマーク回路をTTL-LS型SSIを用いて実現した回路に対し, その検査人力を生成している。それにより, 従来の外部出力論理値測定による検査法に比べ本論文で提案している検査法は, より少ない検査入力で, より高い故障検出率で断線故障を検出できる能力を持つことを明らかにしている。