Case based reasoning as an extension of fault dictionary methods for linear electronic analog circuits diagnosis
Carles Pous i Sabadí · TDX (Tesis Doctorals en Xarxa) · 2004
El test de circuits es una fase del proces de produccio que cada vegada pren mes importancia quan es desenvolupa un nou producte. Les tecniques de test i diagnosi per a circuits digitals han estat desenvolupades i automatitzades amb exit, mentre que aquest no es encara el cas dels circuits analogics. D'entre tots els metodes proposats per diagnosticar circuits analogics els mes utilitzats son els diccionaris de falles. En aquesta tesi se'n descriuen alguns, tot analitzant-ne els seus avantatges i inconvenients. Durant aquests ultims anys, les tecniques d'Intelligencia Artificial han esdevingut un dels camps de recerca mes importants per a la diagnosi de falles. Aquesta tesi desenvolupa dues d'aquestes tecniques per tal de cobrir algunes de les mancances que presenten els diccionaris de falles. La primera proposta es basa en construir un sistema fuzzy com a eina per identificar. Els resultats obtinguts son forca bons, ja que s'aconsegueix localitzar la falla en un elevat tant percent dels casos. Per altra banda, el percentatge d'encerts no es prou bo quan a mes a mes s'intenta esbrinar la desviacio. Com que els diccionaris de falles es poden veure com una aproximacio simplificada al Raonament Basat en Casos (CBR), la segona proposta fa una extensio dels diccionaris de falles cap a un sistema CBR. El proposit no es donar una solucio general del problema sino contribuir amb una nova metodologia. Aquesta consisteix en millorar la diagnosis dels diccionaris de falles mitjancant l'addicio i l'adaptacio dels nous casos per tal d'esdevenir un sistema de Raonament Basat en Casos. Es descriu l'estructura de la base de casos aixi com les tasques d'extraccio, de reutilitzacio, de revisio i de retencio, fent emfasi al proces d'aprenentatge. En el transcurs del text s'utilitzen diversos circuits per mostrar exemples dels metodes de test descrits, pero en particular el filtre biquadratic es l'utilitzat per provar les metodologies plantejades, ja que es un dels benchmarks proposats en el context dels circuits analogics. Les falles considerades son parametriques, permanents, independents i simples, encara que la metodologia pot ser facilment extrapolable per a la diagnosi de falles multiples i catastrofiques. El metode es centra en el test dels components passius, encara que tambe es podria extendre per a falles en els actius.